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化学 高校生

高校で習う化学基礎・化学の中で「物質の濃度」と「有機化学の構造」という所はどの単元にあたりますか?

I 物質の構成 物質の成分と構成元素・・ 原子の構成元素の周期表 化学結合 物質とその利用・ セルフチェックシート ☐☐☐ CONTENTS▪▪▪ Ⅱ 物質の変化 と 日中和と 化学反応式 水素イオン濃度 酸化還元反応 総合問題 セルフチェックシート・ Ⅲ章 物質の状態 の変化 気体の性質 溶液の性質・ 論述問題 総合問題 セルフチェックシート 20 38 42 電 気・ 化学反応の速さ 化学平衡と平衡移動・・ 78 90 100 102 105 「化学 106 112 122 132 134 1.37 ⅣV 物質の変化と平衡化学 の変化 光 138 148 158 166 178 180 セルフチェックシート 185 ■V無機物質 非金属元素の単体と化合物・ 典型金属元素の単体と化合物 面遷移元素の単体と化合物・ イオンの反応と分離 無機物質と人間生活 総合問題 セルフチェックシート VI 有機化合物 有機化合物の特徴と構造••••• 肪族炭化水素・ を含む 芳香族化合物 CD 有機化合物の構造推定・ 有機化合物と人間生活 ◆論述問題 総合問題 セルフチェックシート・ 化合物 VI 高分子化合物 合成と天然 論述問題 総合問題 セルフチェックシート 特 英文読解を要する問題 付録 292 アミノ酸とタンパク質、核酸 300 合成樹脂とゴム・ 312 320 326 328 333 解 186 202 210 220 226 228 230 233 234 240 248 262 ・276 280 284 286 291 334-341 ~342-349 -350-360

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化学 高校生

RHEED法の原理と得られる7つの情報が、この英文に書かれているみたいなのですが、よく分かりません。 分かる方助けてください!🙇‍♂️

INTRODUCTION Reection high-energy electron diHiraction (RHEED) uses a Rnely collimated electron beam with energy of 10-100 keV. The beam irradiates a sample surface with gazing incidence to obtain forward scattered difraction patterms. RHEED enables us to analyze structures of crystal surfaces at atomic levels and also to in situ monitor growth processes of thin films (mo、1988: Ichimiya and Cohen、2004: Peng et al.. 2011). From the arrangement。intensity and profile of the dilraction spots in RHEED patterns as described below in detail、 one can obtain various kinds of information: (1) the periodicity (unit cells) in atomic arrangements. (2) flat- ness of surfaces. (3) sizes of grains/domains of surface structures and microcrystals grown on the surface. (3) epitaxial relation between the grown flms/islands with respect to the substrate. (5) parameters character- izing structural phase transitions. (6) individual atomic positions in the unit cells. and (7) growth styles of thin films and numbers of atomic layers grown. The most important advantages of the method are that it is quite easy to install the RHEED apparatus in Yarious types of vacuum chambers without interfering with other components of apparatuses and to do real- time monitoring during thin-Rlm growths. Because of these advantages.RHEED is nowwidelyusednotonlyin research Iabs of surfaces and thin fims. but also in device production processes in industry Low-energy electron diiraction (LEED、see article Low-ENNERcy ErecroN DirscmoN)。 in which an electron beam of 10-100 eV in energy is irradiated onto a sample surface with nearly normal incidence to obtain back- scattered difraction patterns. is also widely used to analyze the atomic structures of crystal surfaces. Since one has to make the sample face directly to the LEED

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